Equipments
3.光物性実験室
主に当研究室で開発した新材料の光物性を測定する場所です。この部屋で数々の新発見が生まれました。
■4K〜800Kまで温調可能なクライオスタット(LT3 Helitran, ROCKGATE)を用いて作成した新たな測定系
PCからのGPIB、RS232C制御により、Xeランプ(MAX-302 OUV, 朝日分光)、モノクロメータ(G250, Nikon)、温度コントローラ(331 Temperature Controller, Lake Shore)、デジタルボルトメーター(7351A Digital Multimeter, 8240 Digital Electrometer, Advantest)を制御し、温度依存性発光、励起スペクトルをはじめとして、熱ルミネッセンスや光電流測定も可能となりました。
■10K〜300Kまで温調可能なクライオスタット(CRT-006-2600, Iwatani)と各種レーザーを組み合わせた測定系
(蛍光スペクトル、蛍光寿命測定等)
■熱ルミネッセンス用測定系
熱ルミネッセンス用に改造したクライオスタット(Janis, VPF-800)とXeランプ、D2ランプ励起源、光電子増倍管検出器を組み合わせた測定系
■全光束測定システム(Labsphere社製 積分球,10inch)
LEDや蛍光体など発光材料の全放射束、全光束スペクトル測定はもちろん、量子収率、色度座標、相関色温度などの評価に用います!
6inch 積分球Labsphere(CSTM-QE-060-SF) 小型の積分球で感度が高い測定が可能に!
■絶対強度 長残光減衰曲線測定系
単色光源(Xeランプ+バンドパスフィルター)、分光放射輝度計と光電子増倍管を組み合わせて放射輝度(W/sr/m2)、輝度(cd/m2)の残光減衰曲線の測定が可能
■真空紫外(VUV)励起スペクトル測定系
D2ランプ(Hamamatsu, L10366)とVUV分光器(リツー応用光学)を組み合わせた系で励起スペクトルが測定可能
■4K〜800Kまで温調可能なクライオスタット(LT3 Helitran, ROCKGATE)を用いて作成した新たな測定系
■色素レーザ | Arレーザ |
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色素の溶液に別のレーザ光を照射することでレーザ発振を起こします。用いる溶液を変えることでレーザ光の波長を自由に変えることができます。
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アルゴンイオンを利用したレーザーです。レーザ光の波長は488nmです。 |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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D2ランプ | 浜松ホトニクス | C9559 | 紫外光源として |
D2 | 浜松ホトニクス | L10366 | VUV分光器と組み合わせて |
標準D2ハロゲンランプ | Ocean Optics | DH-2000 | ファイバ出力/紫外域の補正に |
Xeランプ | 朝日分光 | MAX-302 | 300W |
MAX-302OUV | 紫外に特化した特注品。使用時はオゾン排気システムを稼働 | ||
ハロゲンランプ | Ocean Optics | LS-1 | ファイバ出力小型ランプ |
標準ハロゲンランプ | Labsphere | CSFS-600 | 蛍光スペクトルの補正に利用 |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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N2-色素レーザー | 宇翔 | KEC2000 | 複数色素所有 |
Arレーザー | Uniohase | 2214-20SLMD | CW |
QスイッチNd:YAGレーザー | New Wave Research | Minilase-10 | 355nm、4mJ、10Hz |
Ybファイバレーザー | IPGroup | YLD-1 | 1051nm、1W、CW。ファイバ出力なのでTDFA励起にも。 |
半導体レーザー (LD) | ― | ― | 372nm, 405nm, 442nm, 940nm, 980nmなど多数所有 |
波長可変近赤外LD | SanTec | TSL-210 | 1500nm-1564nm。EDFA評価のための信号光源として。 |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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3pin用LDマウント | Newport | 700-9-5.6 | 3台所有 |
14pinバタフライ型LDマウンド | Newport | 744 | 2台所有 |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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半導体レーザードライバ | Kette (現Yamaki) | KLD-2ALT, KLD-1ALT | 最大入力電流 2000mA/1000mA 温調一体型で便利! |
LDコントローラー | Newport | Model505 Model525 Model560 |
200mA/500mA 1A/2.5A 3A/6A |
LD温度コントローラー | Newport | Model325 Model350 |
2台所有 高出力用 |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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Si-PD | ELECTRO-OPTICAL SYSTEMS | S-025-H | -1100nmの検出に利用 |
InGaAs-PD | ELECTRO-OPTICAL SYSTEMS | IGA-030-Hなど | 800-1700nm |
拡張InGaAs-PD | ELECTRO-OPTICAL SYSTEMS | IGA2.2.010.TE2-H | 1200-2500nm |
標準Si-PD | 分光計器 | SI337-1010BQ | 励起光の補正に利用 |
PbS-PD | HAMAMATSU | - | 1000-3000nm, f=400Hz |
Ge-PD | HAMAMATSU | - | 800-1700nm, f=1kHz |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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光スペクトラムアナライザ | アンリツ | MS9780A |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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光電子倍増管 | HAMAMATSU | R928, R3896 | 可視用域(300-900nm) |
近赤外用光電子倍増管 | HAMAMATSU | R5509-72 | 400-1700nm, response time=3ns |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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デジタルオシロスコープ | LeCroy YOKOGAWA |
9314C DL1620 |
400MHz 200MHz |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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マルチチャンネル分光器 | Ocean Optics | USB2000×2 USB2000+×2 NIR-512 |
179-875nm, 365-922nm,178-882nm, 573-1224nm,859-1724nm |
QE65Pro QE65Pro | 300-1082nm 高感度のため残光スペクトル測定も容易! 700-____nm ラマン散乱測定、近赤外発光の高分解能測定用 |
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CCD | B&W Tek | i-trometer | 200-1050nm |
輝度計 | KONICA MINOLTA | GlacierX BTC112 | 200-1050nm 残光輝度(cd/m2, W/Sr/m2)測定に活躍! |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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ロックインアンプ | NF Electronic instrument | LI-570A LI-575 |
- |
■プリアンプ 複数所有(Electro-Optical Systems)
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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光ファイバ融着接続機 | フジクラ | FMS-40S | コア直視型光ファイバ融着接続機、 光速融着接続(15秒) |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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分光器 | Nikon | G-250×2 | 2台所有 スペクトル測定に |
手回し分光器 | Shimadzu | SPG-100IR SPG-100ST |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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低温クライオスタット | Iwatani | CRT-006-2600 | 循環式。温度依存性発光スペクトル、吸収スペクトル測定に(10K~300K) |
CRT-006-2000 | |||
高温クライオスタット | ROCKGATE | LT3 Helitran | 800Kまで利用可能 |
高温クライオスタット | Janis | VPF-800 | 800Kまで利用可能 (低温側は、液体N2を選択可) |
品目 | 会社 | 型番 | 備考 |
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LCRメーター | エヌエフ回路設計ブロック | ZM2372 | |
マルチメーター | ADCMT | 7351A | PD,PMTの信号観測 |
微少電流計 | ADCMT | 8240 | 光励起時に蛍光体試料に流れる微少電流(〜pA)を観測 |
電流電圧発生/モニター計 | ADCMT | 6242 | 太陽電池評価に利用 |