５．共同実験室１

共同で使用する実験室です。XRDやTG/DTA、DSCがあります。

・XRD装置

例:当研究室で開発したSrF2系透明結晶化ガラスX線回折パターン: 650℃以下でナノ結晶析出

・TG/DTA,DSC装置

例: SrF2系オキシフロライド結晶化ガラスDTA曲線

■粒度分布測定装置 : マスターサイザー(Malbern)	■ゼータ電位、粒度分布測定装置 : ゼーターサイザー(Malbern)）
レーザー散乱型の粒度分布測定装置です。数十nm~数千μmの粒子まで測定できます。	粒子のゼータ電位測定、動的光散乱による粒度分布測定(~数百nm)ができます。

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６．共同実験室２

共同で使用する人環地下実験室です。XRDやSEM,AFMがあります。

走査型プローブ顕微鏡システム（AFM） （ISIナノテクノロジー）	カンチレバーを用いて 材料表面の物理的観測をおこなう顕微鏡
基板に蒸着した薄膜表面の凹凸観察結果

・Ｘ線回折装置（Ultima�W,　リガク）

集中法／多層膜ミラー平行ビーム光学系の切替が可能で、粉末試料とともに、平衡ビームによる薄膜試料の解析に利用しています。

・小型蛍光寿命測定装置(Quantaurus-Tau, HAMAMATSU)

サブナノ秒からミリ秒の寿命を測定できる蛍光寿命測定装置です。励起光源として、ピコ秒パルスをもつLEDとマイクロ秒パルスのXeフラッシュランプを選択できます。写真右・試料設置部

Tauで測定したCe-Yb共添加YScAlガーネット(YSAG)中のCe3+発光の蛍光減衰曲線.
yはYサイトに対するYb置換濃度.

・SEM

例: 透光性セラミックスのSEM画像